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TT230時(shí)代渦流涂層測厚儀

 TT230時(shí)代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量，比如鋁上的氧化膜，所以也叫膜厚儀，膜厚測量儀；TT230時(shí)代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀是時(shí)代集團(tuán)早先推出的成熟型測厚儀型號之一，無錫君達(dá)儀器優(yōu)惠價(jià)格2450.00供應(yīng)TT230時(shí)代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀。

 TT230時(shí)代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域；該儀器體積小、測頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場測量。

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TT230時(shí)代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀符合以下標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 4957-1985 渦流方法

JJG 818-93 《電渦流式測厚儀》

JB/T8393-1996磁性和渦流覆層測厚儀

TT230時(shí)代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀功能特點(diǎn)

采用了渦流測厚法，可無損傷地測量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度
（如銅、鋁、鋅、錫等基底上的琺瑯、橡膠、油漆鍍層）

可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)及二點(diǎn)校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對測頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正

具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）

具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)

具有刪除功能：對測量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)

設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差

具有米、英制轉(zhuǎn)換功能

具有打印功能，可打印測量值、統(tǒng)計(jì)值

具有欠壓指示功能

操作過程有蜂鳴聲提示

具有錯(cuò)誤提示功能

具有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能

TT230時(shí)代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀技術(shù)參數(shù)

測頭類型：N

測量原理：電渦流

測量范圍： 0-1250um | 0-40um(銅上鍍鉻)

低限分辨力：1µm(10um以下為0.1um)

探頭連接方式：一體化

示值誤差：

一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[3%H+1.5]

兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[（1%~3%）H+1.5]

測量條件：

zui小曲率半徑(mm)：凸3 | 凹10

基體zui小面積的直徑(mm)：ф5

zui小臨界厚度(mm)：0.3

溫濕度：0~40℃ | 20%RH～90%RH

統(tǒng)計(jì)功能：平均值、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差

工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)

測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）

上下限設(shè)置：無

存儲能力：15個(gè)測量值

打印/連接計(jì)算機(jī)：可選配打印機(jī)/能連接電腦

關(guān)機(jī)方式：自動(dòng)

電源：二節(jié)3.6V鎳鎘電池

外形尺寸：150×55.5×23mm

重量：150g

TT230涂層測厚儀基本配置

TT230涂層測厚儀主機(jī)

鋁基體

標(biāo)準(zhǔn)片一套

充電器

使用說明書

有關(guān)TT230時(shí)代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀的詳細(xì)情況請直接咨詢。